用于材料的晶体结构（包括磁性材料的磁结构）测量和分析，确定材料的微观结构参数，探讨材料结构与性能的关系。例如，新材料的结构测定与性能关系研究、磁性物质磁结构表征、重基体材料中轻元素状况分析(包括氢键问题)、材料的相变研究、极端条件(高压、高/低温等)下材料行为研究等等。
我实验室的中子粉末衍射谱仪技术指标：
l 工作波长0.159nm
l 分辨率:Δd/d≤0.5%
l 单色器: 垂直聚焦Ge(115)晶面
l 样品处中子注量率：106cm-2s-1
l 探测器:70支3He管阵列
l 扫描衍射角范围:8°～172°
l 样品环境装置
n 低温范围：10K～300K
n 高温范围：20℃～1000℃
n 高压范围：常压～10GPa
