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高分辨中子衍射谱仪

作者: 来源: 访问: 时间:2012-10-10

    可用于研究含有轻元素的材料(如氧化物、碳化物和储氢材料等)的晶体结构和(或)磁结构,准确测量材料中轻元素的原子占位及占位数,探索储氢材料结构特性及其与吸放氢、贮氢性能的关系;研究不同力学加载条件下金属材料微观结构(如晶粒尺寸、位错或层错等)的演化;研究高温或高压等极端条件下材料的结构变化;复杂晶体结构的测定,例如催化剂、有机材料、沸石或非线性光学材料等;研究铁磁性体和电子材料(如超导体和巨磁阻材料等)的晶体结构和磁结构的相变;纳米材料研究,如纳米贮氢材料、纳米含能材料、纳米复合材料等。

    我实验室的高分辨中子衍射谱仪技术指标:
   
l  工作波长0.189nm
   
l  分辨率:Δd/d0.2%
   
l  样品处中子注量率:105cm-2s-1
   
l  样品处中子束流截面:20×5mm2100×20mm2
   
l  探测器:643He管阵列,探测效率约80%
    l 
衍射角测量范围:8°~172°

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文章录入:余泳 责任编辑:余泳
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